汉芯事件(Hanxin events)是指上海交通大学陈进教授发明“汉芯一号”造假事件。 陈进团队研制的汉芯1号于2003年2月正式发布，并经专家组鉴定认为达到国际先进水平。后经调查，“汉芯一号”是用国外买回的芯片将表面原有标志用砂纸磨掉，然后加上“汉芯”标志“研制”而成。

　　中文名：汉芯事件

　　人员：陈进

　　时间：2003年2月

　　外文名：Hanxin events

　　性质：重大科研造假事件

　　汉芯事件事件经过

　　“汉芯一号”曾经的定义

　　“汉芯一号”采用国际先进的0.18微米半导体工艺设计，在只有手指指甲一半大小的一个集成块上有250万个器件，而且具有32位运算处理内核，每秒钟可以进行2亿次运算。经过国内权威专家验证，认为这一成果接近国际先进技术，在某些方面的性能甚至超过了国外同类产品。

　　发布仪式

　　“汉芯1号”正式发布于2003年2月26日。当天的盛大场面：上海市政府新闻办公室亲自主持，信产部科技司司长、上海市副市长、上海科委、教委负责人悉数到场。 在发布会上，由邹士昌、许居衍等知名院士和“863计划”集成电路专项小组负责人严晓浪组成的鉴定专家组作出了一致评定：上海“汉芯1号”及其相关设计和应用开发平台，达到了国际先进水平，是中国芯片发展史上一个重要的里程碑。

　　被视为“汉芯1号”发明人的陈进自然也是荣誉加身。上海市科委授予其上海市科技创业领军人物称号。同时，陈进本人还身兼数职，上海交大微电子学院院长、上海硅知识产权交易中心CEO，上海交大汉芯科技有限公司总裁、上海交大创奇科技有限公司总经理。